テラヘルツ測定技術やデバイスは、次世代の計測技術として注目されており、電磁波の中でも「テラヘルツ波」と呼ばれる周波数帯(1THz=1兆ヘルツ)の電磁波を利用します。テラヘルツ波は、赤外線とマイクロ波の間に位置する周波数帯域で、物質の構造解析や非破壊検査、通信技術など、さまざまな分野で利用され始めています。
 本セミナーではテラヘルツ測定の応用として,遮蔽物越しの試薬の検出やコンクリート内部の鉄筋の腐食具合の非破壊検査,そしてこれらの技術を可能にするデバイスとして,注目の手のひらサイズの高輝度テラヘルツ波光源や,半導体二次元プラズモンを活用したTHzディテクタを紹介します。この機会にぜひ,ご参加ください。

開催日時

2024年11月28日(木)13:00~16:30(聴講者入室:12:45~)

形態

Zoomを用いたWEBセミナー(Zoomウェビナー)
注)本セミナーでは録音・録画、PC画面の撮影、また配布しますセミナーテキストの複製・第三者への提供などの行為一切を固く禁じます。

プログラム

講演時間に質疑応答5分程度を含みます。講演は5~10分前後することがあります。

13:00~13:50

テラヘルツパラメトリック光源/検出器を用いた非破壊検査技術

名古屋大学 村手 宏輔 氏

本講演では、光注入型テラヘルツパラメトリック発生器(is-TPG)及びテラヘルツパラメトリック検出を用いた非破壊検査技術について報告する。is-TPGは高いピークパワー出力と0.4~5.0THzの広い周波数可変性を持つテラヘルツ波光源であり、さらに発生と逆プロセスを利用したテラヘルツパラメトリック検出と組み合わせることで最大125dBもの高いダイナミックレンジを有する分光システムが実現する。本システムを用いることで、従来困難であった分厚い遮蔽物越しでも試薬検出が可能となった。また、多波長テラヘルツ波の同時発生を実現し、機械学習と組み合わせることで試薬のリアルタイム識別も行っている。加えて、is-TPGによるシングルピクセル分光イメージングも実現しており、当日はこれらを含む最近の研究成果を紹介したい。

13:50~14:40

ミリ波~テラヘルツ波の広帯域測定によるインフラ非破壊診断

芝浦工業大学 田邉 匡生 氏

近年、コンクリート構造物の急速な老朽化に伴い、アクセス困難な場所への適用を可能にするためにも、非接触・遠隔の非破壊検査法が求められているが、コンクリート建物内部における鉄筋の腐食状況は、目視検査や可視カメラなどの光学画像では情報を得ることが難しい。
本講演では、GaPによる周波数可変単色テラヘルツ光源に合わせて、100 GHz以下における周波数可変サブテラヘルツ単色光源による計測システムを開発し、これらの広帯域におけるサブテラヘルツからテラヘルツまでの電磁波を用いる鉄筋コンクリート造建築物の非接触非破壊検査技術を解説する。

14:40~14:50

休憩

14:50~15:40

ロボット搭載可能な高輝度テラヘルツ波光源の研究開発

理化学研究所 南出 泰亜 氏

非破壊検査は、高度近代社会において安全安心を追求する技術として極めて重要である。その中でも、テラヘルツ波を用いたセンシング技術は、従来の赤外線、X線や超音波とは異なる情報が得られる重要な技術である。一方、多様な検査対象に対応するためには、多くの物質がテラヘルツ波領域に持つ吸収に対して、その大小に関わらず検査できる明るいテラヘルツ波光源が必要である。我々は、ごく最近、ロボットに搭載可能な小型で堅牢、かつ高出力のバックワード・テラヘルツ波パラメトリック光源の開発に成功した。励起レーザー光源も内蔵した手のひらサイズの一体型システムであり、産業用途をはじめとして多様な用途に活用できる。
本講演では、この特殊なテラヘルツ波発振の発見からシステム化の実現までの道のりを解説する。

15:40~16:30

入門:テラヘルツ放射分光・イメージング法が拓く新しい半導体R&D分析応用

大阪大学 斗内 政吉 氏

テラヘルツ波は長年の実用化が望まれているが、まだマーケットは限定的である。今回は、フェムト秒レーザーの照射により発生するテラヘルツ電磁波の放射現象を利用する「テラヘルツ放射分光・イメージング法の基礎と応用」*について解説する。講演では、具体的にSi系LSI製造工程における表面・pn接合・MOSの局所的で非接触かつ定量的物性値の見積もり方法、並びに、ワイドバンドギャップ半導体材料・デバイス評価・Si系TSVなど多岐にわたる事例を紹介し、どのような半導体R&Dシーンで、どのように利用することができるかを明らかにし、大きなマーケット展開が可能であることを示す。
*“テラヘルツ時間領域分光: 物質科学への応用”、内田老鶴圃(2021)参照


参加方法 他

参加方法 11月27日(水)正午にZOOM招待メールをお送りいたします。
入金の確認がとれている方のみ
接続テスト 11月28日(木)11:00~11:20
接続確認が終了いたしましたら退出をしていただき、当日12:45になりましたら同様の手順によりご入室ください。
講演資料 11月27日(水)正午に順次送信しますZOOM招待メール内に,講演資料のダウンロードURLを記述いたしますので,ダウンロードをお願いいたします。
注)配布資料は公開可能な範囲となります。また、資料は複製・コピー、第三者への開示・提供を固く禁じます。

受講料・申込方法ほか

受講料 33,000円(税込)* 講演資料代含む
---複数名申込割引---
同一企業から複数名でお申込みいただいた場合、
2人目以降の方の受講料を半額の16,500円(税込)にさせていただきます。
複数名でお申込みの合計額を申込代表者様へご請求となります。
※クレジットカード決済以外のお支払方法はお取り扱いございませんのでご了承ください。(銀行振込には対応しておりません)
申込方法 下部にあります、お申込みフォームよりお申込み下さい。
<複数名でお申込みの場合> ※同時申込のみ適用となります。
【申込区分】にてお申込みになられる人数を選択し、【同時申込者】にて同時に参加される人数(お申込者を除く)を選択していただきますと、その人数分の記入欄が表示されますので「お名前」「ご所属先」「E-mailアドレス」をご記入ください。

受付が完了しましたら下記件名の自動返信メールが届きます。メール内の決済用アドレスより決済を完了させてください。

件名:お申込み確認メール「テラヘルツ測定技術・デバイスセミナー」【オプトロニクス社】

決済が済みましたら、下記件名のメールが届きます。

件名:【ZEUS】決済完了メール(自動配信)
件名: 料金お支払い確認メール「テラヘルツ測定技術・デバイスセミナー」【オプトロニクス社】
支払方法 各種クレジットカードのみ
※クレジットカード決済以外のお支払方法はお取扱いございませんのでご了承ください。 (銀行振込には対応しておりません)

<複数名でお申込みの場合>
複数名でお申込みの合計額を申込代表者様へご請求となりますので、個別でのお支払いはできません。


領収書発行 クレジットカードご決済後、料金お支払い確認メール内に、領収書のURLが記載されていますのでご使用ください。
領収書の宛名は申込フォームの「会社名・団体名」がそのまま反映されます。
領収書の発行は、申込代表者様宛のみとなります。個別の発行はできませんのでご了承ください。
申込・支払締切 11月27日(水)正午
キャンセル規定 お客様のご都合による受講解約の場合は下記のとおり解約金として申し受けます。 11月27日(水)正午までは受講料の50%、11月27日(水)正午以降につきましては受講料の全額
お問合せ (株)オプトロニクス社
セミナー内容に関するお問合せ 担当:杉島
支払いに関するお問合せ 担当:光岡、伊藤
Tel:(03)3269-3550 E-mail:seminar@optronics.co.jp

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